集成电路三温测试设备-天一瑞合-集成电路三温测试设备好处

主要功能:三槽式冷热冲击试验机是以待测物品不动之方式来测试因高低温急速变化而对产品是否造成不良的影响.一般用于电子部品、汽车零件及高科技产品等；需要苛刻的环境条件测试及高信耐性需求的检验。满足标准：1、 GB/T2423.1-1989低温试验方法；2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；4、GJB150.5-86温度冲击试验；5、GJB360.7-87温度冲击试验；6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。适用于航空、l军l工、 舰船、电工、电子、仪器仪表；医l疗器械；民用核能；高等院校；科研实验所；商检仲裁、技术监督部门；建材陶瓷；石油化工等产品、整机及零部件的高低温冲击试验。三槽式冷热冲击试验机FR－1226发瑞仪器生产的冷热冲击试验机。

规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温PID+PWM+SSR系统，温度控制稳定，集成电路三温测试设备好处，精l确。.正压式出风口设计，保证每个角落均有风循环到，温度达到高均匀度要求.高/低温风道系统3s切换完成，高/低温冲击5min内回复.冷冻系统:冷热冲击试验箱模块化制冷系统，效率l高，安装维护方便.冲击温度为-40～-60℃时采用二元式制冷系统.水浸查漏，集成电路三温测试设备厂家，查漏，潜在泄露问题.制冷系统，集成电路三温测试设备，电控系统多项安全保护机制.

温度变化试验分为三类： 1、规定转换时间的快速温度变化试验，集成电路三温测试设备有什么用处，转换时间分为：2～3min，20～30s，<10s 。 2、规定温度变化速率的温度变化试验，试验箱的温度升降变化速率（不超过５min内的平均值）应为1± 0.2℃ /min， 3± 0.6℃ /min， 5± 1℃ /min 。 3、两液槽温度快速变化试验，产生一种急剧的热冲击，适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体，若没有规定则液体温度应为０℃，高温槽装有标准规定的高温液体，若没有规定，则液体温度应为100℃。

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