集成电路三温测试设备原理-天一瑞合-集成电路三温测试设备

温度变化试验分为三类： 1、规定转换时间的快速温度变化试验，转换时间分为：2～3min，集成电路三温测试设备公司，20～30s，

盐雾试验主要用于以下几个方面：1、考核测试材料及其防护层的抗盐雾腐蚀能力；2、评估针对同样的产品，用不同的工艺制造方法其抗盐雾腐蚀的能力的差异性；3、针对不同的防护涂层工艺，其抗盐雾腐蚀能力的高低；4、考核和比较不同厂家生产的同类产品的抗盐雾腐蚀能力的高低；5、研究由于金属组合的因素而增大的电化学腐蚀的发生可能性；

规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温PID+PWM+SSR系统，温度控制稳定，精l确。.正压式出风口设计，集成电路三温测试设备，保证每个角落均有风循环到，温度达到高均匀度要求.高/低温风道系统3s切换完成，高/低温冲击5min内回复.冷冻系统:冷热冲击试验箱模块化制冷系统，效率l高，安装维护方便.冲击温度为-40～-60℃时采用二元式制冷系统.水浸查漏，查漏，潜在泄露问题.制冷系统，电控系统多项安全保护机制.

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