天一瑞合(图)-集成电路测试设备-集成电路三温测试设备

冷热冲击试验箱工作原理

两箱式试验箱通过机组的加热系统和制冷系统，分别产生一个高温环境（60℃~200℃）和一个低温环境（-10℃~-80℃），根据温度冲击试验的相关要求，将被试验品放入指l定温室的载物篮内，待两温室达到预设温度且稳定时，集成电路测试设备，通过传动机构牵动载物篮，集成电路三温测试设备厂家，实现篮内被测元件在高低温室间的移动。移动过程中高低温室相通，被测元件也由高温或低温状态进入另一温室，所以会有大量冷热负荷带入，机组要通过制冷系统或加热系统迅速恢复到各温室预定温度。当被测元件所在温室温度长时间保持稳定后，再经过传动机构将载物篮反向牵动，把被测元件带回原温室，同样须迅速恢复到预定温度，当温度再次长时间稳定后，再重复上述操作，完成多次温度循环冲击试验。

设备名称

立式热流仪 (超快速冷热冲击机)

设备型号

TYST-400-10

性能指标

温度范围

。-65℃~200℃

温度控制精度

±1.0℃(经校正之后的设备)

温度解析精度

0.1℃

温度波动度

≤±0.5℃

出气流量

5~18  (2.35L/s~8.49L/s)

特征温度变化速度

-55℃~+125℃，约10S

(出气口空载 )

+125℃~-55℃，集成电路三温测试设备，约15S

温度控制方式

T型、K型温度传感器，定值监控、程式监控

功能指标

操作界面

10寸触摸屏， 良好的人机交互界面

通讯方式

网口、RS485，可远程控制(提供协议和程序)

数据存储

U盘存储

安装指标

尺寸

590mm*1045mm*872mm(W*H*D)

测试罩移动性

自研支架固定，可升降，可左右移动

电源

AC220V 50HZ 单相

设备名称

立式热流仪 (超低温超快速冷热冲击机)

设备型号

TYST-400-10S

性能指标

温度范围

-80℃~200℃

温度控制精度

±1.0℃(经校正之后的设备)

温度解析精度

0.1℃

温度波动度

≤±0.5℃

出气流量

5~18 (2.35L/s~8.49L/s)

特征温度变化速度

-55℃~+125℃，约10S

(出气口空载 )

+125℃~-55℃，约15S

温度控制方式

T型、K型温度传感器，集成电路三温测试设备报价，定值监控、程式监控

功能指标

操作界面

10寸触摸屏， 良好的人机交互界面

通讯方式

网口、RS485，可远程控制(提供协议和程序)

数据存储

U盘存储

安装指标

尺寸

590mm*1045mm*872mm(W*H*D)

测试罩移动性

自研支架固定，可升降，可左右移动

电源

AC220V 50HZ 单相

控制系统:冷热冲击试验机采用7寸真彩触摸屏，画面显示直观易操作，可做定值和程式控制。250组程序，12500段，每组程序32000次循环，250天历史数据保存功能.预约开关机功能，结束规划设定，停电自动保存数据曲线等.标配USB/RS-232接口，试验数据曲线下l载，数据拷贝电脑自动生成excel表格形式，方便分析.可附加选购局域网远程操控功能.根据待测产品需要设定任意冲击温变率5℃～30℃/min（快速温变型）